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X 射线荧光测量仪 XDLM ® 237
更新日期：2024-05-14
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厂商性质：经销商
生产地址：
简要描述：
X 射线荧光测量仪 XDLM ® 237FISCHERSCOPE ® X 射线 XDLM 237 ®比例计数器（PC）型荧光X射线膜厚测量仪。配备 4 种准直器和 3 种初级滤光片，它是一种高度通用的型号，也适用于电子元件和半导体行业的功能性多层膜测量。
X 射线荧光测量仪 XDLM ® 237
X 射线荧光测量仪 XDLM ® 237
日本进口fischerX 射线荧光测量仪 XDLM ® 237
特征
- 微型聚焦管安装在 X 射线管上，以较小的测量点进行分析。
- 外壳有一个狭窄的开口（C 槽），可以测量大的板状样品。
- 配备 4 种准直器和 3 种初级滤光片的多功能型号
主要规格
从上往下看，是辐照式荧光X射线膜厚测量和材料分析仪。可编程 XY 平台还允许自动连续测量。
| 模型 | 第 237 章 |
|---|---|
| 测量元件范围 | 钙 (20) -U (92) |
| X射线探测器 | 比例计数器 (PC) |
| X射线管 | 微调焦管 |
| 初级过滤器 | 3种 |
| 准直器数量/尺寸 | 4种 / 0.05 x 0.05mm ~ Φ0.2mm |
| 车身尺寸 | 570 x 760 x 650mm（宽 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高达 120W |
主要应用
- 连接器和接触部件的薄膜厚度测量
- 电子元件/半导体行业中的功能性多层膜测量
- 印刷电路板行业中的Au、Pd、Ni薄膜测量
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