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X射线荧光测量仪 XDV ® -SDD
更新日期：2024-05-14
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厂商性质：经销商
生产地址：
简要描述：
X射线荧光测量仪 XDV ® -SDDFISCHERSCOPE ® X 射线 XDV ® -SDD使用硅漂移探测器（SDD）作为X射线探测器的高性能荧光X射线膜厚测量仪。使用电动载物台，可以测量非常薄的薄膜并进行显微分析。
X射线荧光测量仪 XDV ® -SDD
X射线荧光测量仪 XDV ® -SDD
日本进口fischerX射线荧光测量仪 XDV ® -SDD
特征
- X射线探测器采用硅漂移探测器（SDD）
- 配备可编程 XY 平台
- 大且易于进入的测量室（密闭室型）
主要规格
使用电动载物台，可以对极薄的薄膜进行自动测量和微量分析。
| 模型 | XDV-SDD |
|---|---|
| 测量元件范围 | 铝 (13) -U (92) |
| X射线探测器 | 硅漂移探测器 (SDD) |
| X射线管 | 微调焦管 |
| 初级过滤器 | 6种 |
| 准直器数量/尺寸 | 4种/Φ0.1mm～Φ3mm |
| 车身尺寸 | 660 x 835 x 720mm（宽 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高达 120W |
主要应用
- 超薄膜和多层膜的检测（电子/半导体行业等）
- 筛选分析（RoHS、玩具、包装标准有毒物质检测等）
- NiP成分分析、厚度测量
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